Samsung phải tự trách mình vì sự cố gặp phải trên Galaxy Note7

Samsung vừa lên tiếng xác nhận hãng đã tự thử nghiệm độ an toàn của pin trên Galaxy Note7, thay vì thuê một đối tác bên ngoài thực hiện điều này như nhiều hãng smartphone khác, và bản thân Samsung đã không phát hiện bất kỳ lỗi nào trên pin của sản phẩm trong quá trình thử nghiệm.

“Samsung đã thử nghiệm các thiết bị Galaxy, bao gồm cả Galaxy Note7, theo chứng nhận của Hiệp hội không dây (CTIA), trong phòng thí nghiệm nội bộ của công ty từ tháng 2/2009”, Samsung cho biết trong một thông báo được gửi đến trang công nghệ Cnet.

Nguyên do gây nên sự cố trên Galaxy Note7 vẫn đang là câu hỏi chưa có lời giải đáp

Để có thể bán điện thoại di động tại thị trường Mỹ, các hãng smartphone phải thử nghiệm độ an toàn của pin trên sản phẩm tại các phòng thí nghiệm được xác nhận đáp ứng tiêu chuẩn của Hiệp hội không dây (CTIA).

Theo tờ báo The Wall Street Journal, Samsung là hãng sản xuất smartphone duy nhất có phòng thí nghiệm đáp ứng tiêu chuẩn của CTIA, điều này đồng nghĩa với việc Samsung đã không gửi mẫu pin trên sản phẩm ra các công ty bên ngoài để thử nghiệm sản phẩm, mà tự thực hiện quá trình thử nghiệm, do vậy Samsung phải chịu toàn bộ trách nhiệm vì đã không phát hiện ra sự cố gặp phải trên Galaxy Note7 trước khi tung sản phẩm ra thị trường.

Phát ngôn viên của Samsung cho biết phòng thí nghiệm của hãng đã không phát hiện ra bất kỳ sự cố nào trên Galaxy Note7 phiên bản gốc và Galaxy Note7 phiên bản đã sửa lỗi được đổi cho người dùng sau này. Điều này khiến nhiều người đặt ra câu hỏi phải chăng sự cố trên Galaxy Note7 không đơn thuần nằm ở pin trên sản phẩm mà do một nguyên nhân nào khác mà đến nay Samsung vẫn chưa thể xác định được?

Theo nhận định của Venkat Viswanathan, Trợ lý giáo sư về kỹ thuật cơ khí tại Đại học Carnegie Mellon (thành phố Pittsburgh, bang Pennsylvania, Mỹ) rất có thể hệ thống điều khiển điện áp của pin trên sản phẩm mới là nguyên do gây nên sự cố. Vị trợ lý giáo sư này cũng cho rằng việc sử dụng vật liệu chất lượng thấp bên trong các cell pin cũng có thể là một phần gây nên khả năng cháy nổ trên sản phẩm.

“Xác suất gặp lỗi trên pin lithium-ion là rất thấp”, Venka Viswanathan cho biết.

Lãnh đạo Samsung từng khẳng định sẽ dồn mọi nguồn lực để tìm ra nguyên nhân sự cố trên Galaxy Note7 và hơn ai hết bản thân Samsung hiểu rằng cần phải tìm ra lỗi trên sản phẩm của mình, một phần nhằm giúp lấy lại lòng tin từ phía người sử dụng và quan trọng hơn để tránh những sự cố tương tự gặp phải trên các sản phẩm cao cấp trong tương lai của hãng, mà gần nhất là mẫu Galaxy S8 sẽ ra mắt vào năm sau.